
JETP, Vol. 81,
No 3,
p. 538 (September 1995)
(Русский оригинал - ЖЭТФ,
Том 108,
Вып. 3,
стр. 977,
Сентябрь 1995
)
Investigation of the atomic structure of Si(100) surfaces covered by submonolayer Bi films
R.Z. Bakhtizin, C. Park, T. Hashizume, T. Sakurai
Поступила в редакцию: 11 Марта 1995
|
|