Магнитооптический параметр Q для структур с одноосной оптической анизотропией
Максимова О.А., Лященко С.А., Варнаков С.Н., Овчинников С.Г.

Поступила в редакцию: 29 Июня 2021

DOI: 10.31857/S0044451021110079

PDF (253.9K)

Работа посвящена развитию метода магнитооптической эллипсометрии на отражение. Решена обратная задача для структур с оптической одноосной анизотропией: найдены коэффициенты отражения для границы раздела внешняя среда-образец, получено аналитическое выражение для магнитооптического параметра, пропорционального намагниченности, позволяющее определить его исключительно по экспериментальным данным, измеряемым с помощью магнитооптической эллипсометрии. Представлен подробный алгоритм для проведения эксперимента по нахождению тензора диэлектрической проницаемости при экваториальной геометрии.